技术编号:7516421
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种半导体设备的测试技术,特别是涉及一种测试图形的周期(测试速率)的控制技术。背景技术为了将测试图形提供给作为测试对象的被测试设备(DUT),检查其动作并判断是否良好,而利用测试装置。在测试装置中搭载有图形发生器(PG)和定时发生器(TG),所述图形发生器用于生成提供给DUT的测试图形,所述定时发生器对于将测试图形提供给DUT 的定时进行规定。测试图形的周期(频率)也被称为测试速率,并需要测试装置具有可使测试速率发生任意变化的功能。定时发生器根据...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术注重原理思路,无完整电路图,适合研究学习。