技术编号:7518122
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于集成电路领域中的抗辐射加固压控振荡器 (Vo 1 tage-Contro 11 ed-0sci 11 ator, VC0),具体涉及一种基于三模冗余技术的单粒子瞬变 (Single-Event Transient, SET)加固的差分 VC0。背景技术在辐射环境中,高能粒子轰击电路的敏感结点后,粒子能量沉积将导致碰撞电离, 电离出的“电子_空穴”对在晶体管电场和浓度梯度的作用下被传输和收集,从而使得输出 电压或电流产生暂时性波动,导致电路产生错误...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术注重原理思路,无完整电路图,适合研究学习。