技术编号:7518773
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于集成芯片的测试,具体地说,是涉及对芯片进行测试时的一种多时钟域测试方法及测试电路。背景技术在数字电视、机顶盒中所使用的集成芯片的设计、生成过程中,为了测试芯片在制造中是否存在短路、开路等问题,经常需要加入DFT设计(可测试性设计)。通常,做芯片测试时需要使用特定的测试时钟,称之为ATE时钟;而芯片正常工作的时钟称之为工作时钟。 一般来说,ATE时钟通常比实际应用中芯片的正常工作时钟的频率要低,因此,为保证测试的准确性,通常都用芯片的工作时钟作为捕...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术注重原理思路,无完整电路图,适合研究学习。