技术编号:7525230
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。使用校验子分析的故障总线通道检测背景技术本发明一般地涉及计算机存储器系统,更具体地说,涉及使用校验子分析检测故障总线通道。现代高性能计算主存储器系统通常包括一个或多个动态随机存取存储器(DRAM)设备,这些设备通过一个或多个存储器控制元件连接到一个或多个处理器。整体计算机系统性能受计算机结构的每个关键元素的影响,这些元素包括处理器(多个)、任何存储器高速缓存(多个)、输入/输出(I/o)子系统(多个)的性能/结构、存储器控制功能(多个)、主存储器设备(多个...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术注重原理思路,无完整电路图,适合研究学习。