技术编号:7528701
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型公开了一种基于欠采样技术锁相环长周期抖动片上测量电路,包括欠采样实现电路,控制电路,移位寄存器A、移位寄存器B和CDF合成电路,同时本实用新型还提出了基于周期对齐欠采样后处理技术,该技术可以用于测量锁相环长周期抖动。本实用新型提出的锁相环长周期抖动片上测量电路具有测量精度高,实现方法简单等优点,并弥补了现有基于欠采样技术抖动测量电路无法测量长周期抖动的缺点。专利说明一种基于欠采样技术锁相环长周期抖动片上测量电路 [0001]本实用新型涉及一...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术注重原理思路,无完整电路图,适合研究学习。