技术编号:7540695
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属半导体测试领域,涉及;所述测试方法分别采用高性能晶振为被测高速高分辨率模数变换器芯片提供低抖动的采用时钟和低噪底的正弦波测试输入信号,其中正弦波测试输入信号通过对晶振输出信号进行带通滤波得到,并通过自动测试设备可编程电源模块为晶振提供工作电源,编程控制晶振的工作电源电压实现晶振输出采样时钟信号、正弦波测试输入信号的幅度控制;由自动测试设备的一路数字通道控制晶振的Enable/Disenable引脚,实现对晶振输出信号的开关控制。本发明具有成本低、体...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术注重原理思路,无完整电路图,适合研究学习。