技术编号:7541962
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了一种基于信号源误差一次性校准识别的高精度ADC测试方法。本测试方法通过选取分辨率高于待测ADC3比特以上的ADC作为初次测试对象,任意选取一种合适的高精度ADC测试算法对采集的初测ADC的输出码进行处理,并求取初测ADC的传输函数和信号源的非线性表达式,然后识别和校正信号源非线性表达式的非线性部分后基于给定的激励非线性表达式测试待测的具有较低分辨率的待测ADC。该方法避免了传统直方图和相关高精度ADC测试方法中需要重复采样和信号源表达式估计等问...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术注重原理思路,无完整电路图,适合研究学习。