技术编号:7544810
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明提出了一种,它以FDR码为基础,是一种变长到变长的压缩方法,根据测试集中除了有大量的0游程外,还有大量的1游程,提出了对0/1游程交替编码的方法,后一游程类型可以根据前一游程类型转变得到,这样在代码字中不需要表示游程类型,减少了游程所需代码字的长度,从而有效提高了压缩率。同时该方法中解码电路简单且独立于被测电路。基于此,本方法具有极好的应用前景。专利说明[0001]本发明涉及集成电路测试方法,具体涉及一种系统芯片的测试数据处理方法。背景技术[0002...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术注重原理思路,无完整电路图,适合研究学习。