技术编号：7546153
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及数模混合集成电路设计，为提供一种对多参考电压单斜ADC进行校准的方法，以校准参考电压偏移导致的误差。为此，本发明采取的技术方案是，一种校准列级多参考电压单斜ADC的方法及装置，由斜坡及多参考电压产生器、计数器、比较器、多路选择开关、逻辑电路及存储电路、校准模块组成，每列由比较器、多路选择开关、逻辑电路及存储电路组成，斜坡及多参考电压产生器产生斜坡电压分别通过各列的多路选择开关中的一个开关提供给该列的比较器；此外还包括一标准列；校准列的比较器通过校...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
该类技术注重原理思路，无完整电路图，适合研究学习。