技术编号:7550680
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种高效的测试方法,尤其涉及通讯领域中与数字器件相关的单通道,多通道大量数据的测试。背景技术 一般通讯领域,在与数字器件相关的测试和设计中,会有大量数据要求测试,以找出每个待测通道输入信号和输出信号之间的响应曲线。尤其是与DAC(digital-to-analog converter)器件相关的通道的曲线测试。由于输入信号是与多位二进制相关的“0”,“1”信号的排列组合,可能的输入信号的情形复杂繁多。而一般人们希望的最佳的测试是尽可能花费较短的时...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。