技术编号:7646915
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及网络通信技术,特别是一种射频指标测试方法及系统。 背景技术在TDD-LTE系统中,从单板测试到集成测试,需要测试的指标一般有上行信号的信噪比(SNR, Signal to Noise Ratio),无杂散动态范围(SFDR, Spurious Free Dynamic range)满量程信号幅度,单音信号功率以及DDC滤波器特性等;下行信号的相邻频道泄漏比(ACLR,Adjacent Channel LeakageRatio,),山条值平均功率比...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。