技术编号：7826808
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。专利摘要本实用新型公开了一种双波长同步测试的插损回损测试仪。它包括中央处理器，中央处理器分别通过一个1310nm光发射模块和一个1550nm光发射模块连接到波分复用器上，波分复用器信号的输出端连接光分路器，光分路器的输出端连接到被测跳线的前端面上，光分路器的回损信号端连接回损测试模块；回损测试模块直接与中央处理器进行信息传输。采用上述的结构后，光发射模块的发射信号能够通过波分复用器传输到光分路器，然后经过接头和测试线到被测跳线的前端面，CPU连接回损测试模块，由此可通过与CPU联动的方式，轮流发射1310nm、15...
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