技术编号:7855457
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。技术领域本发明涉及一种。背景技术随着半导体制作工艺的进步,多核芯片和基于多核的并行计算成为提高芯片性能的新手段。然而,随着芯片上晶体管的密度越来越大,特征线宽越来越小,对于生产单核芯片的要求也越来越高,难度越来越大,更不用说多核芯片了。一种广泛应用的解决方案就是在芯片设计和制造过程中引入容错技术。冗余容错作为一种简单的容错方案,在芯片设计领域得到迅速的发展和应用。之前的工作主要集中在微结构级的冗余容错,这种技术在核心数量较少的情况下还比较适用。但是,当核心数量增长到一个临界值时,微结构冗余引入的硬件成本则有些得不偿...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。