技术编号:7862850
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。技术领域本发明涉及一种对被测设备测试的实现方法,尤其涉及。背景技术目前在数通测试领域,如常见的对于G/EP0N系统测试的传统方法中,需要通过仪表端口 11的连接至每个被测设备端口。如图I所示为传统的在EPON环境下对多个被测设备进行测试的拓扑结构示意图,可见,被测设备端口较多时,例如在132光分下挂32个0NU,如果要对下挂32个ONU同时测试,那么就需要用到的仪表端口数量至少为33个(其中I个为OLT上联口所用)。这种方`法需要用到的仪表端口太多,同时操作测试仪表端口也过多,使测试人员倍感繁琐,同时也容易出错,在...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。