技术编号:7869324
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。技术领域本发明属于电磁兼容性领域,具体涉及一种微波暗室性能测量系统,用于测量微波暗室静区反射率电平、交叉极化特性、多路径损耗均匀性、场均匀性等性能指标。背景技术微波暗室是开展天线测量、电磁兼容测量、雷达测量的重要实验场地。微波暗室性能的好坏,直接影响各种测量的准确度,无法对设备性能进行正确评价。理想的微波暗室,静区内的电磁波反射能量为零,实际上由于暗室内吸波材料和墙壁的反射,发射天线的副瓣辐射总会有一部分会反射进入测试静区,影响测试的准确度。因此,准确测量微波暗室静区内的各项性能指标,对评价微波暗室的使用范围和对暗...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。