技术编号:79652
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。技术领域[0001]本发明涉及一种在没有严格温湿度环境控制的环境中,估计并补偿扫描探针显微 镜工作过程中温漂的方法。背景技术[0002]目前,利用扫描探针显微镜的研究涉及越来越多的领域。其不仅用来获取物体的 表面形态,也用于对纳米级别的粒子进行操控。譬如已有研究人员在研究使用原子力显微 镜(AFM)对直径IOnm的粒子进行推动的操作。然而,为了实现纳米级别物体的自动生产, 仍然有很多问题需要解决。因为在一个没有严格温湿度环境控制的条件下使用AFM对粒子 进行操作时,有很多不确定性的问题需要操作人员做出人为干预补偿,...
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