技术编号:8002777
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。专利摘要提供一种。一种用于获得目标对象的深度图像的可使用子累积期,基于按第一相位间隔存储在第一浮动扩散节点中的光电二极管的电压和按第二相位间隔存储在第二浮动扩散节点中的光电二极管的电压,来计算第一浮动扩散节点与第二浮动扩散节点之间的差电压,可将所述差电压反馈到第一浮动扩散节点和第二浮动扩散节点之一,并可基于在包括子累积期的累积期期间积累的差电压来计算像素的深度值。专利说明[0001]本申请要求于2012年7月24日提交到韩国知识产权局的第10-2012-0080482号韩国专利申请以及于2013年4月19日提交到韩...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。