技术编号:8017562
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。技术领域本发明一般涉及受调制电源,特别涉及用于双能X射线装置的改进电源。测量材料密度的常见方法为用X射线照射该材料而测量该材料所吸收的辐射量,所吸收的辐射量即表示出密度。这一公知方法用于CT扫描器之类的X射线装置中。使用双能X射线源不只是测量密度而且还提供有关材料的化学特性的技术也是公知的。使用双能X射线源的技术涉及到测量材料对两个不同能级的X射线的吸收特性,这些测量不但表示出材料密度,而且还表示出材料的原子数。使用能量可选X射线重构CT图象的双能X射线技术例如可见刊登在Phys.Med.Bio1.1976,Vo1...
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