技术编号：8029736
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。技术领域本发明涉及一种利用毫米波到太赫波区域中的高频电磁波检测对象的物理性质值等的感测设备和方法。背景技术 近年来，已经开发了利用毫米波到太赫(THz)频率(30GHz到30THz)的电磁波的无损感测技术。现在正在开发的这种频带中的电磁波应用领域里的技术例子包括利用安全的荧光设备替代X射线荧光检查仪的成像技术、获得材料的吸收光谱或复介电常数以探测(或者检查)其中的结合状态的光谱技术、分析生命分子的技术以及估计载体浓度或迁移率的技术。作为一种利用太赫电磁波的感测系统，日本专利申请特开H10-104171号公开了一种准...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。