技术编号：8030551
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。技术领域本发明涉及一种静电放电电路。背景技术 众所周知，电子集成电路中出现故障的原因是曝露大的和/或突然的静电放电(ESD)。当充电的器件与集成电路接触时，例如，当电路的部分连接到电源(包括地)时，所积累的静电电荷可能快速放电。所述放电可以引起对集成电路的损坏，导致氧化物和/或其他薄膜的介质击穿，并且由于电路上的p-n结的反向击穿而引起通过集成电路的相对小的区域的较高电平传导。静电放电(ESD)可能对集成电路的可靠性起作用。而且，随着集成电路的尺寸减小，ESD忍耐力也可能降低。具体他，作为高电流密度和低电压耐受力的...
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