技术编号:8032541
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。技术领域本实用新型涉及一种检测装置,特别是一种对小型硬盘进行检测的装置。背景技术在硬盘的制造过程中,由于技术的复杂性,需要对硬盘性能测试的项目内容非常之多,可达几十项之多,测试的时间比较长,短的有几个小时,长的达十几个小时。在这些测试中,由于硬盘主轴马达的高速旋转,其间会产生大量的热量,导致测试过程中硬盘的环境温度升高;较高的环境温度不利于将硬盘随时产生的大量的热量排走,如果硬盘的温度愈来愈高,会严重影响硬盘的正常测试,例如导致硬盘的读写错误,以及内部机电元件的变形、失常和失效,轻者产生测试错误,重者会使硬盘报废,...
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