技术编号：8033140
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。技术领域本发明涉及原子力显微镜领域、这种显微镜中所使用的探针，以及操作这种显微镜的方法。特别地，涉及不利用探针高度的常规反馈控制的原子力显微镜。背景技术 原子力显微镜(AFM)或扫描力显微镜(SFM)由Binnig、Quate和Gerber在1986年发明。如同所有其他扫描探针显微镜，AFM基于在样品表面上方机械地扫描纳米探针以便获得样品的“相互作用图谱”的原理。该情况下的相互作用力仅是样品和粘连着悬臂弹簧的尖锐探针的尖端之间的分子相互作用。当探针尖端开始与样品紧密接近时，悬臂响应于相互作用力而弯曲。通过相对于探针...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。