技术编号:8055871
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。技术领域本发明涉及一种包括OELD(有机电致发光器件)在内的,特别涉及一种,其中应用光学损伤现象很容易分离有机半导体器件的多个元件或象素,或者很容易制作复杂形状的有机半导体器件,从而提高有机半导体器件的产率,最小化制造过程中产生的污染物,并可增强器件的操作可靠性。 背景技术 一般地,有机半导体器件包括有机二极管器件和有机晶体管器件,这些器件基于与有机材料的HOMO(最高占据分子轨道)能级和LUMO(最低未占据分子轨道)能级相关的半导电性。有机二极管器件的实例包括有机发光二极管和有机电致发光(EL)二极管,有机晶体管...
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