技术编号:8091530
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。专利摘要本发明涉及,其步骤为(1)开料、图形转移、DES线;(2)自动光学检测仪器检查;(3)装配PF膜、一次叠层前处理、一次叠层、一次层压并进行一次IPQC检查;(4)二次叠层前处理、二次叠层、三次叠层、二次层压并进行二次IPQC检查;(5)靶冲、钻孔和分条;(6)沉铜、全板电镀;(7)DES线、二次褪膜并进行二次自动光学检测仪器检查;(8)光板电测试。(9)三次叠层前处理、四次叠层、三次层压并进行三次IPQC检查;(10)激光切割、二次褪膜、装配第一PI补强板、四次层压并进行四次IPQC检查;(11)过微蚀、沉...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。