技术编号：81935
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。技术领域本发明涉及一种影像量测系统及方法，尤其是关于一种影像量测过程中辅助对焦的系统及方法。背景技术目前制造业普遍存在品质管理意识，而品质管理的控制愈来愈依赖测量仪器设备，特别是无法由肉眼所检视的精密产品，例如电路板排线、连接器端子排列的整齐度、半导体封装的插孔、液晶屏幕、精密铸模等。随着竞争的日益激烈，测量仪器也从传统的卡尺、显微镜、投影仪到三维接触式测量仪再到非接触式测量仪器，并与计算机结合，将测量结果进行分析运算。例如，工厂在批量生产某一工件前需生产出几件样品工件进行量测，利用影像量测仪器摄取工件样品的相关影...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。