技术编号：8221755
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。目前对颗粒物体的物位检测主要分为接触式和非接触式，非接触式测量方法主要为单点式测量，单个发送点发送超声波和单个接收点接收发送点发送的超声波，通过短距离测量法测得颗粒物体的物位。但是上述非接触式测量方法的测量盲区大，且易受物体的凹凸面、介质常数、湿度、粘度、导热率灯等因素的影响。因此，上述非接触式测量方法的测量误差大、故障率高，且无法实时获得物体的物位。发明内容基于此，有必要针对上述非接触式测量方法的测量误差大、故障率高，且无法实时获得物体的物位的问题，提供...
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