技术编号：8222068
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。自1959年德国物理学家Sauerbrey提出石英晶体微天平(Quartz CrystalMicrobalance, QCM)检测仪器技术以来，这种对表面质量变化高度敏感的传感器已经在环境监测、化学生物传感等方面获得广泛应用，并成为监测界面传质现象之有力工具。石英晶体微天平的核心器件是压电石英晶片，其谐振频率随表面质量的增加在一定条件下成线性下降关系，Sauerbrey推导出了 QCM的谐振频率与质量负载的关系，被称为Sauerbrey方程，即Δ F = ...
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