技术编号:8222560
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。 本发明涉及一种测定物质比磁化系数的设备,特别是测定弱磁性物质的比磁化系 数。仪器自动调节磁场强度、自动控制测量机构、自动采集测量数据、自动运算处理、自动显 示测定结果、自动生成测量坐标图像和完整测定报告。背景技术 比磁化系数就是单位质量的矿粒在单位强度的外磁场中所产生的磁矩。它能更确 切地表示物体的磁性。磁化系数在判断物质分子中是否存在未成对电子及配合物结构类 型等方面具有重要应用,磁化系数的测定同时涉及物理学和物质结构两门学科中的磁化强 度、磁感应强度...
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