技术编号:8232401
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。 本发明涉及一种事件相关电位分析方法。特别是涉及一种包含多种外界刺激、且 单种刺激重复次数较少的基于配对样本T检验的事件相关电位分析方法。背景技术 脑电信号是通过电极记录下来的脑细胞群的自发性、节律性电活动,根据是 否含有外部刺激,可分为自发脑电(Electroencephalo-graph, EEG)和事件相关电位 (Event-related Potentials, ERP)两种。事件相关电位是人们对特定刺激事件进行感知加 工或执行某种认知任务时诱发出...
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