技术编号：8253737
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。 在腐蚀电化学实验中，对腐蚀后的试样经常需要通过扫描电镜SEM观察表面腐蚀 形貌，观察有无穿孔，判断粗趟度W表明腐蚀严重程度。 目前利用Matl油图像处理和图像捕获工具箱对沈M图像处理来检验表面粗趟度 的技术已经得到应用，但对于图像质量要求较高，表面无划痕，无倾斜，凸起等；且扫描电镜 SEM成本较高且耗时较长，对试样表面要求较高（无污染、水分、磁性等），因此通过电化学 阻抗谱等效电路拟合得到1/Zew来表征腐蚀程度可W大大节省时间，不会对试样本身造成 破坏...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。