技术编号:8254755
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。 本发明涉及一种基于动态光散射原理的颗粒粒度测量装置及方法,特别涉及一种 采用采用相关算法分析2幅纳米颗粒动态光散射信号图像的相关关系得到纳米颗粒粒度 及分布的测量方法及装置。背景技术 目前基于光散射原理的颗粒测量方法可分成静态光散射和动态光散射2类。 静态光散射测量方法中最主要的是激光粒度仪,其基本原理是当激光入射到被测 颗粒时,颗粒会散射入射激光,其散射光能的空间分布与颗粒的大小有关,测量其散射光能 的空间分布,然后应用光散射理论和反演算法可W获得被测...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。