技术编号:8255696
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。 本发明涉及一种半导体集成电路制造工艺方法,特别是涉及一种最佳噪声系数的 测试方法。背景技术 在射频集成电路中,如低噪声放大器,器件的噪声系数是非常重要的指标;在4个 噪声参数中,最重要的参数就是最佳噪声系数,该对电路的设计、器件的选择具有指导作 用。 但是在测试环节,目前测试高频噪声的方法主要有两种,一种是测试50欧姆 (Ohm)下的噪声系数,不是最佳噪声系数;另一种是用调谐器的方法及软件相结合的方式测 试噪声参数,其中包括最佳噪声系数,该种方法目前国内...
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