技术编号：8255697
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种具有多个测试站的转盘式测试装置与系统，特别是涉及一种可以同时对多个电子元件连续进行不同测试的具有多个测试站的转盘式测试装置与系统。背景技术近年来，为了缩减电子产品的体积与增加其功能，设计并制作出具有多种不同功能的电子元件(例如微机电元件)以取代传统仅具有单一功能的电子元件。然而，这些具有多种功能的电子元件在完成制作之后，往往需要对于不同的功能进行不同的测试，但是大部分的测试装置都仅能进行单一测试，所以需要电子元件转移到不同的测试装置而进行不同...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。