技术编号：8258264
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。集成电路设计中，FPGA调试已经作为设计流程中重要的一环，通过将芯片的源代码通过综合烧录到FPGA中，进行功能测试盒系统验证，更能准确低验证芯片的功能是否正确，为芯片成功流片和样品回归测试积累经验以及准备测试程序。在当前的调试中，普遍采用将芯片代码直接烧录到单FPGA中调试，但是当芯片规模变大时，一个FPGA已经满足不了容量需求，则目前普遍采用的方法是，将芯片进行精简，对芯片内部功能进行单独测试，从而缺少对芯片整体系统的全局测试，对芯片的流片成功埋下了隐患...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。