用于SiC异质外延生长的原位刻蚀方法技术资料下载

技术编号:8262091

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碳化硅SiC作为宽禁带半导体材料的代表之一,具有禁带宽度大,击穿电场高,热导率大,电子饱和漂移速度高,抗辐射能力强和良好的化学稳定性等优越性质,成为继锗、硅、砷化镓之后制造新一代微电子器件和电路的关键半导体材料。SiC/Si和AlGaN/GaN等其他异质结,是传统的通过化学组分变化形成,而碳化硅多型异质结是通过化学成分不变,晶型突变来制备。因此碳化硅多晶型的异质结具有以下优点I)具有可忽略的热匹配和晶格匹配3C-SiC和6H-SiC在(0001)面的晶格失...
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