技术编号:8269982
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体基板的清洗方法以及清洗系统,可用于清洗至少露出一部分TiN的经硅化处理后的半导体基板。背景技术近年,在CMOS工艺中,为了降低硅化物电阻,采用了使用N1、Co的NiS1、CoSi作为硅化物材料。但是,为了降低接合漏电流,使用了在N1、Co中加入5%?10% Pt、Pd的合金。其中,尤以使用NiPt时,值得期待其提高耐热性和抑制接合漏电流的效果。(参照专利文献1、2)在硅化工序中,将合金在Si基板上制膜后,通过实施热氧化处理使合金和Si发生反...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。