技术编号：8280386
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。 本发明设及非光学球面元件，尤其是设及一种大口径光学非球面元件的两段轮廓 拼接测量方法。背景技术 在光学系统中使用大口径非球面元件能够有效地矫正像差，改善像质，减少光学 元件数量，从而减小光学系统的外形尺寸和重量，使光学系统或仪器的光学性能大大提高。 因此，大口径非球面元件正越来越多地被用于空间光学、军事、高科技民用等领域。但是，非 球面轮廓测量设备主要由国外垄断，大口径轮廓测量设备或价格高昂或难W得到，所W大 口径非球面光学元件加工精度和效率的提高受到了...
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