技术编号：8281710
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。在一些电磁、辐射环境比较恶劣的情况下，航天电子器件会发生单粒子效应，单粒子效应有SEU (单粒子翻转)、SET (单粒子瞬态)、SEL (单粒子闩锁)、SED (单粒子扰动)等多种表现形式，其中SEU为较为常见的一种单粒子效应，SEU主要发生在存储器件和逻辑电路中，SEU能使电路逻辑状态发生的翻转，导致电路的逻辑错误，导致系统逻辑状态错误甚至严重时会导致系统崩溃这种灾难性事故。近年来在航天技术为实现单粒子防护多采用多模冗余加多数选举技术、冷热备份技术、检错...
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