技术编号：8287742
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明总体上涉及辐射探测器元件和构造辐射探测器元件的方法。本发明还涉及包括至少一个辐射探测器元件的成像系统。此外，本发明涉及横向附接方法。背景技术用于探测诸如X射线或可见光的电磁辐射的探测器被使用在许多应用中，包括医学和安全成像、天体物理学以及照相机。美国专利7968853中公开了辐射探测器的一个范例。其中描述的所谓“双层探测器”包括面向X射线源的层叠的闪烁体的二维阵列。光电二极管的有源区域被光学地耦合到层叠的闪烁体。光电二极管和闪烁体关于基板被横向地取向...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。