技术编号:8299234
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。随着芯片制造工艺的不断进步,芯片特征尺寸已进入超深亚微米时代。目前,代工厂能提供的最先进工艺的典型值在28nm左右。数字集成电路的规模越来越大,集成度越来越高,内部空间状态越来越多且越来越复杂,这样的现状带来的结果就是芯片功能和逻辑出错的概率大大增加。为保证芯片设计的正确性和IP的可重用性,验证就起到了关键性的作用。从国际商用机器公司,英特尔和超威半导体等国际先进的芯片公司公开的技术资料看,目前在芯片设计中,验证的工作量大约占总工作量的60%?70%,在某...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。