一种待测试硬件运算部件的测试方法及参考模型装置的制造方法技术资料下载

技术编号:8299234

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随着芯片制造工艺的不断进步,芯片特征尺寸已进入超深亚微米时代。目前,代工厂能提供的最先进工艺的典型值在28nm左右。数字集成电路的规模越来越大,集成度越来越高,内部空间状态越来越多且越来越复杂,这样的现状带来的结果就是芯片功能和逻辑出错的概率大大增加。为保证芯片设计的正确性和IP的可重用性,验证就起到了关键性的作用。从国际商用机器公司,英特尔和超威半导体等国际先进的芯片公司公开的技术资料看,目前在芯片设计中,验证的工作量大约占总工作量的60%?70%,在某...
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