技术编号:8317195
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。在光学系统中采用非球面光学元件,不仅可以消除多种像差,减少光能损失,从而提高光学系统的成像质量,而且减少了光学元件的数量,简化了系统的结构。近年来,非球面元件在光学系统中的应用日益普及。而非球面的加工质量直接影响到光学系统的成像质量,非球面检测技术一直是影响非球面加工精度进一步提高的“瓶颈”。从某种意义上讲,没有与加工精度相适应的高精度检测方法及仪器,非球面的精密加工和超精密加工就难以实现。在非球面测量领域,现有的检测方法有接触式轮廓检测方法、无像差点检测...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。