技术编号:8317720
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。最初,说明一般的相控阵列超声波探伤方法(以下将超声波探伤记载为UT(Ultrasonic Testing))的原理。如图8所示,构成UT传感器的长方体的超声波元件(以下记述为元件)成为平行排列。通过调整元件之间的超声波发出开始时间差(以下记述为延迟时间)而使超声波同时到达焦点,提高焦点的声压来进行探伤。通过调整延迟时间来变更焦点位置,扫描超声波。由该结构构成的阵列传感器的元件间距的制约因子如下所述。在使主瓣(mainlobe,以下记述为ML)收敛于焦点时,...
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