技术编号：8317983
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。 本发明涉及一种基于硬件的高效测试向量生成技术，属于集成电路测试与计算机 应用。背景技术 随着设计和工艺技术的发展，集成电路的规模和复杂度越来越高，测试数据量膨 胀导致测试应用时间和测试成本大幅上升。内建自测试技术（BIST)通过在芯片内部集成 测试向量生成、应用和测试响应分析电路，可以有效降低测试对自动测试设备的依赖，降低 测试成本。同时，BIST支持全速测试，且有利于保护集成电路测试方法和技术的知识产权。 嵌入式硬件测试向量生成是集成电路BIST的关键...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。