技术编号:8323779
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。现有的旋转检测装置具有相互相对旋转的永久磁铁及一对磁轭、诱导由永久磁铁和一对磁轭的相对旋转而在一对磁轭间产生的磁通的一对集磁环、检测集磁环间的磁通的霍尔IC传感器。作为检测部件,一对磁轭及一对集磁环由坡莫合金等软磁性体形成,通过嵌入模制成形与树脂制的支架一体设置,经由支架固定于输入输出轴或外壳。与上述说明的技术有关的例子记载于专利文献I。现有技术文献专利文献专利文献1(日本)特开2008 — 180518号公报发明内容发明所要解决的课题但是,在上述现有技术...
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