技术编号：8342484
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。外层空间环境中存在各种各样的复杂的辐射，如宇宙射线，太阳耀斑以及围绕地球的内、外范艾伦辐射带等。在这些辐射环境的作用下，各种航天器的集成电路中将会产生各种形式的失效，从而导致航天器故障。单粒子翻转(Single-EventEffect, SEU)是对集成电路影响最为严重的辐射效应之一。针对SEU，航天电子系统中常用纠I检2汉明码进行加固。随着当前的集成电路的工艺尺寸的缩减到45nm并正向30nm迈进,一种新的效应，电荷共享(ChargeSharing)，成...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
该类技术注重原理思路，无完整电路图，适合研究学习。