技术编号：8346287
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。 随着航天电子器件集成度的不断提高，空间辐射已经成为影响航天器可靠性和运 行寿命的重要因素。辐射对集成电路的影响主要分为两大类单粒子效应和总剂量效应。 总剂量效应是集成电路长期处在辐射环境中，辐射效果积累所产生的效应；单粒子效应是 辐射能量粒子进入集成电路后，辐射效果即时作用所产生的效应。其中单粒子效应可细分 为三类 1、单粒子软错误效应包括单粒子翻转效应，单粒子瞬变效应，单粒子多翻转效应 等，在短时间内对电路节点产生干扰。 2、具有潜在危险性的效应如单粒...
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