技术编号:8360134
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。 本发明涉及电离辐射测试,特别涉及一种双通道计数系统、高剂量条件 下剂量当量的测量方法。背景技术 半导体个人剂量计由于具有低功耗、小体积、高灵敏度、实时测量等特征,被广泛 应用于核电站、放射医学、无损探测、反应堆等辐射场所。随着能源需求的日益增加,核电的 发展将进一步加剧了个人剂量计的需求。但是,受仪器功耗、体积、探测器前端技术等制约, 采用低功耗、分列元器件组成的探测器电子系统,其输出核脉冲信号具有一定宽度,当在高 剂量辐射场时,会出现脉冲堆积现象,导致...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。