技术编号：8373479
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。在液晶显示领域，为了判断模组卡合的情况，通常用塞规来测量各卡合处Gap大小。现有的塞规如图1和图2所示，现有技术中的塞规1，一种塞规只涉及一个尺度，即只能测量一种空隙的大小，因此需要较多数量的塞规。由于需要各种不同尺寸的塞规来配合测试，因此，对塞规的存放和整理显得尤为重要。如图3所示，现有技术中，将多个不同尺寸的塞规I叠放在一起，使用销栓2穿过多个塞规上的孔而将塞规整理在一起，每次使用时都需打开销栓将整把塞规拆散，这样导致塞规的取用、放置比较麻烦，同时，塞...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。