技术编号：8394523
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。 本发明涉及无损检测领域，具体涉及。背景技术 表面微观变形（微米级）是材料研宄的难点。主要表现在一、材料种类繁多，没 有通用的表面微观变形的检测仪器；二、材料实际受载荷千变万化，还有可能是多种载荷的 耦合情况，测量环境复杂；三、微米级测量要求精度高，对环境及测量仪器的灵敏度等也要 求高。综合以上原因，使得表面微观变形测量测不准确甚至导致测量失败。 目前，材料表面微米级测量的实验方法主要有电测法和光测法。电测法是在试件 表面粘贴应变片，是一种接触式测量法，测...
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