一种半导体电路抗单粒子翻转的全加固方法及系统的制作方法技术资料下载

技术编号:8412651

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现代航空航天系统中集成大量半导体芯片,因地球高空和宇宙中充满各种带能量的粒子,这些高能粒子穿透芯片外壳,透射到半导体电路的灵敏区,由于单个粒子的能量瞬间透射,导致芯片某个区域或节点的电压发生瞬间跳变,引发数字电路的逻辑状态瞬间改变,即发生单粒子翻转。随着半导体工艺的不断进步,单粒子翻转成为芯片在航天航空系统中失效及发生错误的主因,0.13um工艺以下深亚微米的半导体芯片尤其容易发生单粒子翻转,所以现今的半导体芯片设计需要考虑到单粒子翻转的发生,针对电路半导...
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